集成芯片测试仪器测试方法-无锡冠亚恒温制冷技术环球彩票
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集成芯片测试仪器测试方法

发布时间:2019-03-29 16:31:58    查看次数:365

  集成芯片测试仪器是在元器件中芯片、半导体、集成电路测试中使用的,无锡冠亚的集成芯片测试仪器在使用的时候需要注意其测试方法,争取更有效的运行集成芯片测试仪器。

元器件1.jpg

  集成芯片测试仪器运行的时候按管脚功能图连接好测试线(压控晶振压控端接地),置于高低温箱。集成芯片测试仪器在-40℃下存放1小时,开机测试起振时间不大于3秒。集成芯片测试仪器分别在-40℃、+25℃、+75℃加电各保持一小时后测试频率。集成芯片测试仪器频率温度稳定性按下式确定:f-T稳定性=±(fmax - fmin)/fmax +fmin)

  集成芯片测试仪器将测试源、被测晶振及RM99A相噪测试仪(连接电脑)通电预热半小时,给晶振的频率调谐端提供合适的压控电压,将晶振频率校准到标频,调整相噪测试仪的微调旋钮,使仪器的失锁灯处于关闭状态,且指针稳定在0刻度无抖动。此时可以开始测试,并在电脑上生成测试曲线,可直接读出各点的噪声值。

  不同集成芯片测试仪器的使用方法可能有写区别,建议用户根据相应集成芯片测试仪器型号设备的说明书进行使用。(本文来源网络,如有侵权,请联系删除,谢谢。)


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